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X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials



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Éditeur :

Wiley-ISTE


Paru le : 2013-03-01



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Description
This book presents a physical approach to the diffraction phenomenon and its applications in materials science.
An historical background to the discovery of X-ray diffraction is first outlined. Next, Part 1 gives a description of the physical phenomenon of X-ray diffraction on perfect and imperfect crystals. Part 2 then provides a detailed analysis of the instruments used for the characterization of powdered materials or thin films. The description of the processing of measured signals and their results is also covered, as are recent developments relating to quantitative microstructural analysis of powders or epitaxial thin films on the basis of X-ray diffraction.
Given the comprehensive coverage offered by this title, anyone involved in the field of X-ray diffraction and its applications will find this of great use.
Pages
351 pages
Collection
n.c
Parution
2013-03-01
Marque
Wiley-ISTE
EAN papier
9781905209217
EAN PDF
9780470394533
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
351
Taille du fichier
6001 Ko
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations sur l'accessibilité
Prix
243,65 €
EAN EPUB
9781118613955
Informations sur l'ebook
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
351
Taille du fichier
5100 Ko
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Prix
243,65 €

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